x熒光光譜儀在實際工作過程中，水分對其測量結果有很大的影響，其主要有兩方面，一方面是水分對入射射線和次級射線的吸收，另一方面是水分對初級射線的散射。水分吸收入射射線會使得X熒光光譜儀測量的目標元素的特征X射線計數率減小，而水分散射的射線會使得測得譜線的本底和散射計數增大，加大了對目標元素的特征峰影響。因此，在X熒光光譜儀分析技術中，水分對測量結果的影響是不能忽略的。

    由于不同元素的特征x射線能量大小不同，水分影響的結果也是不同的。對于輕元素或者是原子序數小的中等元素，它們的特征X射線能量較低，水分對其吸收就會較為明顯。對鐵礦樣品，其原子序數較低且特征X射線能量較小，水分效應對其計數率的影響就較為明顯。因此，在制樣的時候，對樣品進行充分的烘干就顯得非常重要。

    2、制樣壓力分析

    在對粉末樣品進行X射線熒光光譜儀分析時，對于未壓制過的樣品直接進行測量，由于樣品顆粒間隙中存在空氣，這會對入射射線造成一定的吸收和散射，勢必會影響到測量的結果。采用壓片法制樣時，這就會存在壓制樣品的壓力大小的選擇。為了減小測量結果的誤差，盡量消除密度效應對鐵礦石選礦工藝流程中的鐵礦樣品的影響，對樣品采用不同壓力制樣，測量結果會出現不同的變化情況。通對鐵礦粉末樣品上的壓力與儀器測量結果之間關系的分析研究。當樣品的厚度足夠的情況下，制樣壓力在0.5Mpa以下時，x射線熒光光譜儀對鐵礦樣品中的鐵元素的分析結果隨著制樣壓力的增加而增大。同樣前提條件下，制樣壓力在0.5Mpa以上時，儀器的分析結果隨著制樣壓力的增加變化趨于平穩(wěn)，測量結果基本一致。這樣可以認定儀器在0．5Mpa以上時，鐵礦樣品在厚度飽和的情況下，制樣壓力對儀器的測量結果的影響可以消除。一般情況采用了1Mpa的制樣壓力進行制樣，可以很好的消除制樣壓力對樣品制備的影響，提高儀器的測量精度。

    3、飽和厚度分析

    X射線在樣品中的穿越厚度與入射射線的能量有很大的關系，入射射線能量越大，穿越的厚度就會越深。在用X射線熒光儀分析待測樣品時，樣品的厚度不夠，那么射線極有可能就會穿越樣品進入空氣中，這就會降低待測樣品的計數率，對結果造成一定的影響。因此，對樣品飽和厚度對儀器測量結果的影響進行研究是十分必要的。

    鐵礦樣品測量計數率隨著樣品的重量的增加逐漸增大，在樣品達到5g以上時，儀器的測量結果變化趨勢變緩，且基本趨于穩(wěn)定。通過實驗，可以認定當鐵礦樣品重量達到5g時，對于本次實驗制樣模具大小和采用1Mpa壓力制樣的情況下，樣品達到飽和厚度。對于同樣條件下，5g樣品的飽和厚度通過游標卡尺測量的厚度顯示為3.125mm。因此，本文實驗在制樣過程中，統(tǒng)一模具下，樣品的重量盡量在5g以上，才能消除樣品厚度不足給儀器測量帶來的誤差。

    4、不均勻效應分析

    X射線熒光分析技術對粉末樣品進行分析，樣品的不均勻性、顆粒度大小和偏析現象都會對分析結果造成很大的影響。在制備樣品時，必須要加以注意。常常把由待測樣品顆粒度的大小不一對X射線熒光分析造成的影響稱為顆粒度效應，而由于礦物中存在的礦化不均勻引起結果的偏差稱之為礦化不均勻效應。