X熒光鍍層厚度測試儀T900

2017-10-09

T900 產品特點
（1）集成工業級計算機，外接大顯示器，減少數據處理干擾和數據傳輸故障，儀器運行更穩定；
（2）配0.1MM小準直器，適應各種鍍層厚度檢測需求；
（3）儀器自動校準，確保儀器測試數據的準確性；
（4）自帶WIFI系統，方便接入網絡打印機和遠程數據調試；
（5） 800萬像素高清攝像定位系統，準確定位測試點；
（6）樣品測試結束時，有音樂提醒，提示跟換樣品，提高工作效率；
（7）開放式工作曲線標定功能，客戶可自主增加測試項目；
（8）可自定義多種報告輸出形式；
（9）超大數據庫，確保測試結果的準確性；
（10）集成數據統計功能，方便品質部門篩選統計供應商、物料名稱、部件以及通過不同時間段測試狀況；

T900 技術參數

1

儀器測試范圍：

Fe基材：鍍層Cr/Zn/Ni/Ag/Au zui多測試五層

Cu基材：鍍層Ag/Sn/Au/Ni等zui多測試五層

其他基材等

2

樣品種類：

金屬上鍍金屬鍍層

3

zui低檢出限：

鍍層分析：0.0035um--40um

4

測試時間：

30s-100s(軟件自動調整)

5

攝像定位系統：

1200萬真像素高清定位系統；

6

X射線光管：

窗口材料：金屬鈹

使用壽命：大于30000小時

7

探測器：

美國Amptek*鍍層探測器

分辨率125ev±2

9

高壓電源：

0-90kev，0-2mA   zui大100W

10

高壓保護措施

過壓自保護，自恢復

11

集成工業計算機：

（電腦一體機）

4G內存，1.6G雙核CPU

操作系統：正版Windows7   （無需外接電腦）

12

準直濾光系統：

光斑大小：φ0.1mm、0.5mm、4mm(軟件自動選擇)

濾光系統：15種5組（軟件自動選擇）

13

工作環境溫度：

溫度 :15-30℃  ；濕度：≤75% （不結露）

14

輸入電源：

AC 220V±15%，50Hz

15

儀器尺寸：

450mm*450mm*350mm

16

測試樣品腔尺寸：

300mm*300mm*260mm

17

輻射防護標準：

遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準

T900 技術參數
1	儀器測試范圍：	Fe基材：鍍層Cr/Zn/Ni/Ag/Au zui多測試五層 Cu基材：鍍層Ag/Sn/Au/Ni等zui多測試五層其他基材等
2	樣品種類：	金屬上鍍金屬鍍層
3	zui低檢出限：	鍍層分析：0.0035um--40um
4	測試時間：	30s-100s(軟件自動調整)
5	攝像定位系統：	1200萬真像素高清定位系統；
6	X射線光管：	窗口材料：金屬鈹使用壽命：大于30000小時
7	探測器：	美國Amptek*鍍層探測器分辨率125ev±2
9	高壓電源：	0-90kev，0-2mA zui大100W
10	高壓保護措施	過壓自保護，自恢復
11	集成工業計算機：（電腦一體機）	4G內存，1.6G雙核CPU 操作系統：正版Windows7 （無需外接電腦）
12	準直濾光系統：	光斑大小：φ0.1mm、0.5mm、4mm(軟件自動選擇) 濾光系統：15種5組（軟件自動選擇）
13	工作環境溫度：	溫度 :15-30℃ ；濕度：≤75% （不結露）
14	輸入電源：	AC 220V±15%，50Hz
15	儀器尺寸：	450mm450mm350mm
16	測試樣品腔尺寸：	300mm300mm260mm
17	輻射防護標準：	遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準